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芯片自动表面缺陷检测设备变更公告2
信息来源： ******[查看]
|地区：全国
|类型：变更通知
基本信息
信息类型：变更通知
区域：全国
源发布时间：2025-02-13
项目名称：******[查看]
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*符合收录标准*
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项目名称：芯片自动表面缺陷检测设备

项目编号：TC250J064

变更内容：

（1）本项目质保期要求为：自验收合格之日起 2 年。


（2）第五章 供货要求 技术部分的“2.1.1硬件结构：1）光学成像系统”要求为：

1）光学成像系统：光学镜头、高精度的传感器。

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快照：2025-02-13
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